[发明专利]一种实验室设备使用寿命预测系统和方法

摘要

本发明提供一种实验室设备使用寿命预测系统和方法，所述系统包括互感器组件、数据采集单元和数据处理单元，所述方法首先结合试验室设备结构、历史运行数据和环境，建立试验室设备故障树，确定能表征试验室设备性能退化的特征量以确定试验室设备寿命的失效阈值，数据采集单元实时采集互感器组件转换的电流信号，数据处理单元实现对于试验室设备使用寿命的预测，使工作人员能够及时排除故障，保证试验室设备7*24小时的安全运行。

主权项

一种实验室设备使用寿命预测方法，其特征在于,包括以下步骤：步骤一：根据历史运行数据建立实验室设备故障树，计算出需要进行监测的性能参数，根据性能参数确定设备的失效阈值；步骤二：向互感器组件发送同步的采样信号，获取实验室设备的性能参数，并对异常值进行剔除；步骤三：数据处理单元根据采样数据进行数据分析，根据失效阈值从状态数据中提取故障特征参数，获取其故障特征参数退化数列；步骤四：数据处理单元采用灰色模型和支持向量机预测模型的组合预测方法建立使用寿命预测模型，将故障特征参数退化数列导入寿命预测模型得出实验设备剩余使用寿命；对于不同故障模式下的故障特征进行定量分析，通过仿真运算获得故障性能参数，确定了起动电流峰值Ist、稳态电流的均值Iav、稳态电流脉动幅度Istd、稳态电流小波能量熵Wn、波纹电压值VS，5个特征量作为实验室设备寿命预测的性能参数。