[发明专利]基于轨迹相交的三维几何元素约束状态判断方法在审
| 申请号： | 201410302348.6 | 申请日： | 2014-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN104050336A | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 倪中华;刘晓军;易红;程亚龙;刘金锋 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 210096*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于轨迹相交的三维几何元素约束状态判断方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、将几何元素分解为基本几何元素和基本尺寸元素，其中基本几何元素包括点p、直线l、平面pl共3类，基本尺寸元素包括角度θ、大半径r1、小半径r2共3类；步骤二、将几何元素的约束状态判断转化为基本几何元素的约束状态判断和基本尺寸元素的数值计算；步骤三、合并基本几何元素和基本尺寸元素最后综合得到几何元素的约束状态。本发明方法根据规则判断了基本几何元素在当前约束的作用下形成了轨迹状态并与基本几何元素本身进行匹配，得到其约束状态。最后，根据基本几何元素的约束状态和基本尺寸元素的数值状态得到几何元素的约束状态。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 轨迹 相交 三维 几何 元素 约束 状态 判断 方法 | ||
【主权项】：
一种基于轨迹相交的三维几何元素约束状态判断方法，其特征在于，步骤如下：步骤一、将几何元素分解为基本几何元素和基本尺寸元素，其中基本几何元素包括点p、直线l、平面pl共3类，基本尺寸元素包括角度θ、大半径r1、小半径r2共3类；步骤二、将几何元素的约束状态判断转化为基本几何元素的约束状态判断和基本尺寸元素的数值计算；步骤三、合并基本几何元素和基本尺寸元素最后综合得到几何元素的约束状态。
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