[发明专利]引线框架形状检查装置以及引线框架间距离的测定方法有效
| 申请号： | 201410305216.9 | 申请日： | 2014-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN104848799B | 公开（公告）日： | 2017-11-24 |
| 发明（设计）人： | 元永郁夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/14 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 庞乃媛,黄剑锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供能够对以相互对置的方式进行接合的引线框架的形状进行检查的引线框架形状检查装置以及引线框架间距离的测定方法。引线框架形状检查装置包括构成粘接于第1引线框架的发光元件与粘接于第2引线框架的受光元件对置的对、并且在水平面内纵方向以及水平面内横方向被二维地配置的引线框架接合体。引线框架形状检查装置具备能够放射可见光的光源部；使可见光朝向上述引线框架接合体弯曲的第1镜部；使透射了引线框架接合体的可见光弯曲的第2镜部；对通过第2镜部而被弯曲的可见光进行受光，并对透射图像进行拍摄的摄像部；以及在引线框架接合体的2个水平面内间隙部分别插入第1镜部和第2镜部，并且能够在水平面内纵方向上按间距进给的第1输送部。 | ||
| 搜索关键词： | 引线 框架 形状 检查 装置 以及 间距 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种引线框架形状检查装置，包括引线框架接合体，该引线框架接合体构成粘接于第1引线框架的发光元件和粘接于第2引线框架的受光元件对置的对，并且在水平面内纵方向以及水平面内横方向被二维地配置，上述引线框架形状检查装置具备：光源部，能够放射可见光；第1镜部，使上述可见光朝向着上述引线框架接合体弯曲；第2镜部，使透射了上述引线框架接合体的上述可见光弯曲；摄像部，对通过上述第2镜部而被弯曲了的上述可见光进行受光，并对透射图像进行拍摄；以及第1输送部，在上述引线框架接合体的2个水平面内间隙部，分别插入上述第1镜部和上述第2镜部，并且能够在水平面内纵方向上按间距进给。
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