[发明专利]序列检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410309610.X 申请日: 2014-06-30
公开(公告)号: CN105323055B 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 何开江;彭俊峰 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: H04L7/00 分类号: H04L7/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 任媛;张颖玲
地址: 518085 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种序列检测方法及装置,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;存储第x个i路数据;接收第x+1个i路数据;将第x个i路数据及第x+1个i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;及依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于等于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。
搜索关键词: 序列 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种序列检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取并行度为i的i路数据;将第x个时刻i路数据及第x+1个时刻i路数据形成第x个检测数据组;在n个中的每一个检测窗口内均提取所述检测数据组中连续分布的s路数据,形成n个数据段;将每一个所述数据段与本地序列进行相关运算;依据所述相关运算的结果确定该数据段是否为目标序列;其中,所述x为不小于1的整数;所述第i为不小于2的整数;所述n小于所述i;所述s为不小于1的整数,且等于所述目标序列的比特数。
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