[发明专利]一种耗尽型沟道超势垒整流器及其制造方法有效
申请号: | 201410311136.4 | 申请日: | 2014-07-01 |
公开(公告)号: | CN104518006B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 陈文锁;肖添;钟怡;胡镜影;张培健;刘嵘侃 | 申请(专利权)人: | 重庆中科渝芯电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/28;H01L21/336 |
代理公司: | 重庆大学专利中心50201 | 代理人: | 王翔 |
地址: | 401332 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于提供一种耗尽型沟道超势垒整流器及其制造方法,所述超势垒整流器采用耗尽型沟道形成超势垒区,正向导通时的阳极欧姆接触由阳极金属和强反型的超势垒区自动形成。该耗尽型沟道超势垒整流器包括第一导电类型衬底、轻掺杂第一导电类型漂移区、第二导电类型体区、场介质层、栅介质层、多晶硅层、金属层和化合物金属层,以及下电极金属层和上电极金属层。 | ||
搜索关键词: | 一种 耗尽 沟道 超势垒 整流器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种耗尽型沟道超势垒整流器,其特征在于:包括重掺杂第一导电类型衬底(10)、轻掺杂第一导电类型漂移区(20)、第二导电类型体区(22)、栅介质层(31)、多晶硅层(32)、化合物金属层(33)和金属层(34);轻掺杂第一导电类型漂移区(20)覆盖于重掺杂第一导电类型衬底(10)之上;第二导电类型体区(22)浮空于轻掺杂第一导电类型漂移区(20)中;栅介质层(31)覆盖于轻掺杂第一导电类型漂移区(20)之上的部分表面;多晶硅层(32)覆盖于栅介质层(31)之上;具有金属导电特性的化合物金属层(33)同时连接第二导电类型体区(22)、轻掺杂第一导电类型漂移区(20);化合物金属层(33)还覆盖于多晶硅层(32)之上;金属层(34)覆盖于化合物金属层(33)之上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆中科渝芯电子有限公司,未经重庆中科渝芯电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410311136.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体元件
- 下一篇:一种有机发光显示装置及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类