[发明专利]一种具有密贴悬空栅极的硅纳米线场效应管的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410312619.6 申请日: 2014-07-02
公开(公告)号: CN104071745A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 杨勋;李铁;张啸;戴鹏飞;王跃林 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B82B3/00;B82Y40/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种具有密贴悬空栅极的硅纳米线场效应管的制备方法,包括步骤:通过至上而下的工艺在(111)型硅片上制备出特定尺寸的硅纳米线,保留氮化硅掩膜层,并以此为绝缘层在其上制作栅极,同时在硅纳米线两端的体硅上通过离子注入制备漏极和源极,构成了基于硅纳米线的场效应管,由于硅纳米线整体贴在氮化硅薄层上,成品率得到很大提高。所制备的纳米线直径和长度可控,比表面积大,活性强,可作为气体传感器和生化传感器的敏感元件,具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 具有 悬空 栅极 纳米 场效应 制备 方法
【主权项】:
一种具有悬空栅极的硅纳米线场效应管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1)提供一(111)型的硅片,于硅片表面形成介质掩膜层,通过光刻工艺于所述介质掩膜层中形成间隔排列的倾斜的矩形窗口;2)通过所述矩形窗口对所述硅片进行刻蚀,形成预设深度的凹槽;3)通过所述凹槽对硅片进行各向异性腐蚀,形成六边形腐蚀槽,且相邻两个六边形腐蚀槽之间形成预设宽度的单晶硅薄壁结构;4)基于自限制热氧化工艺对硅片进行氧化,于单晶硅薄壁的顶部中央位置形成单晶硅纳米线;5)于所述介质掩膜层中形成第一窗口,并通过该第一窗口于硅片中形成重掺杂的欧姆接触区域;6)于所述单晶硅纳米线两端的介质掩膜层中分别形成第二窗口,并通过该第二窗口于硅片中形成源区和漏区;7)以所述单晶硅纳米线表面的介质掩膜层作为栅介质层,于所述栅介质层表面制作栅电极;8)去除被氧化的单晶硅薄壁,释放出所述单晶硅纳米线。
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