[发明专利]温度测量装置以及温度测量方法无效

专利信息
申请号: 201410315783.2 申请日: 2011-04-01
公开(公告)号: CN104083151A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 后藤健次 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: A61B5/01 分类号: A61B5/01;G01K1/20;G01K7/42;G01K13/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供温度测量装置以及温度测量方法,该温度测量装置包括:测量第1表面温度的第1表面温度测量单元;测量第1参照温度的第1参照温度测量单元;测量第1外气温度的第1外气温度测量单元;测量第2表面温度的第2表面温度测量单元;测量第2参照温度的第2参照温度测量单元;测量第2外气温度的第2外气温度测量单元;以及使用第1表面温度、第1参照温度、第2表面温度、第2参照温度、第1外气温度以及第2外气温度的值,运算出外气的外气温度的外气温度运算单元。
搜索关键词: 温度 测量 装置 以及 测量方法
【主权项】:
一种温度测量装置,其特征在于,该温度测量装置包括:第1表面温度测量单元,其测量被测量对象的表面温度作为第1表面温度;第1参照温度测量单元,其测量与所述第1表面温度的测量位置之间具有规定的热阻值、且与外气之间具有第1热阻值的位置处的温度作为第1参照温度;第1外气温度测量单元,其测量与所述第1参照温度的测量位置之间具有所述第1热阻值、且与外气之间具有规定的热传递系数的位置处的温度作为第1外气温度;第2表面温度测量单元,其测量与所述第1表面温度的测量位置不同的表面位置处的第2表面温度;第2参照温度测量单元,其测量与所述第2表面温度的测量位置之间具有规定的热阻值、且与外气之间具有与所述第1热阻值不同的第2热阻值的位置处的温度作为第2参照温度;第2外气温度测量单元,其测量与所述第2参照温度的测量位置之间具有所述第2热阻值、且与外气之间具有规定的热传递系数的位置处的温度作为第2外气温度;以及外气温度运算单元,其使用所述第1表面温度、所述第1参照温度、所述第2表面温度、所述第2参照温度、所述第1外气温度以及所述第2外气温度的值,运算出外气的外气温度。
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