[发明专利]大尺寸工件的三维表面形貌测量方法有效

专利信息
申请号: 201410317022.0 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104197860B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 叶晓平;游张平;杨将新;刘鸣洲 申请(专利权)人: 丽水学院
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司33100 代理人: 黄芳
地址: 323000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 大尺寸工件的三维表面形貌图像测量方法包括使用白光波长扫描干涉测量法扫描工件表面,白光波长扫描干涉测量法获取一系列子表面图像,扫描过程中被测工件沿蛇形运动,相邻的子表面图像之间有区域重叠,子表面图像组成序列表面形貌;寻找序列表面形貌之间的坐标位置和灰度级上的双重映射变换,使序列表面形貌在拓扑上和几何上对齐;用基于变换域的配准方法实现子表面图像的坐标精确配准;对相邻两个子表面图像中重叠区域的多组图像子表面图像数据采用小波变换的方法进行融合,将所有子表面图像融合成一张形貌图像。本发明具有既能获得大尺寸工件的完整的三维表面形貌信息,又使图像具有高横向分辨率信息的优点。
搜索关键词: 尺寸 工件 三维 表面 形貌 测量方法
【主权项】:
大尺寸工件的三维表面形貌图像测量方法,包括以下步骤:1)、使用白光波长扫描干涉测量法扫描工件表面,白光波长扫描干涉测量法获取一系列子表面图像,扫描过程中被测工件沿蛇形运动,相邻的子表面图像之间有区域重叠,子表面图像组成序列表面形貌;2)、寻找序列表面形貌之间的坐标位置和灰度级上的双重映射变换,使序列表面形貌在拓扑上和几何上对齐;用基于变换域的配准方法实现子表面图像的坐标精确配准,利用基于全局优化即最小化所有序列子表面图像重叠部分残差平方和的方法进行灰度配准;坐标精确配准包括以下步骤:(2.1)通过对互相重叠的序列表面形貌求解它们再基准平面的相对平移量,使序列表面形貌的坐标统一;利用傅里叶变换的平移特性,设和分别为相邻的子表面图像和子表面图像,表示两幅子表面图像间的平移量,则有:(1)根据傅里叶变换特性,他们的傅里叶变换和满足下列关系:(2)定义两幅子表面图像的互能量谱为:(3)其中,是和的互能量谱,是的共轭;由式(2)和式(3)可以知道,如果两子表面图像之间只有平移的话,则:(4)对式(4)实行傅里叶反变换得到脉冲函数,该脉冲函数在其他位置为零,只有一个位置会出现非零脉冲信号,这个相对位置就是两幅子表面图像的平移量;当得到的不是一个严格的脉冲信号时,以去脉冲信号最大的位置作为两子表面图像的平移量;(2.2)实现序列表面形貌的坐标变换:(2.2.1)通过平移变换实现坐标系的统一:设为平移前子表面图像上某一点,已知平移量为,平移后该点坐标为,则和的关系可以表示为(5)在齐次坐标系中,式(5)可以表示为:(6);(2.2.2)确定坐标系的原点:假设所有子表面图像都在的象限中,则子表面图像和子表面图像相对平移的情况分为以下几种:当时:当时:当时:当时:其中,和分别为子表面图像和子表面图像的平移量;步骤2)中,采用使所有子表面图像的重叠部分残差平方和最小的方法实现序列表面形貌的灰度配准:假设测量得到的子表面图像数量共有个,子表面图像的面形数据可以表示为,其消除倾斜和平移因素影响后的面形数据可以表示为,有其中,,,分别为在空间坐标系中每个子表面图像形貌在、方向上的倾斜量以及方向的平移量;从全局出发,寻求使所有子表面图像的重叠部分残差平方和最小时a,b,d的值;其中,N表示子表面图像数量,num表示该子表面图像采样点数,随后再利用式得到修正后的表面形貌;3)、对相邻两个子表面图像中重叠区域的多组图像子表面图像数据采用小波变换的方法进行融合,将所有子表面图像融合成一张形貌图像。
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