[发明专利]包括等温处理区的等离子体处理设备有效

专利信息
申请号: 201410317527.7 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN104282530B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 拉梅什·钱德拉赛卡兰;杰里米·塔克;卡尔·利泽;艾伦·斯考普 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/3065;H01J37/32
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及包括等温处理区的等离子体处理设备,即涉及一种具有等温处理区的用于处理半导体衬底的沉积设备,其包括化学离析室,半导体衬底在化学离析室中处理。处理气体源流体连通喷头模块,喷头模块从处理气体源输送处理气体到等温处理区,其中喷头模块包括:面板,其中面板的下表面形成限定等温处理区的腔体的上壁;背板;和隔离环,隔离环包围面板和背板。至少一个压缩密封件被压缩在面板与背板之间,在面板与背板之间形成中心气体充气室。衬底基座模块被配置为加热并支撑半导体衬底,其中基座模块的上表面在化学离析室内形成限定等温处理区的腔体的下壁。真空源流体连通等温处理区,以便从等温处理区抽空处理气体。
搜索关键词: 包括 等温 处理 等离子体 设备
【主权项】:
1.一种具有等温处理区的用于处理半导体衬底的沉积设备,其包括:化学离析室,半导体衬底在所述化学离析室中处理;处理气体源,其与所述化学离析室流体连通,以供应处理气体到所述化学离析室中;喷头模块,其将来自所述处理气体源的处理气体输送到所述等温处理区,其中所述喷头模块包括:面板,其中所述面板的下表面形成限定所述等温处理区的腔体的上壁;背板;隔离环,所述隔离环包围所述面板和所述背板,其中所述隔离环支撑所述背板;支撑元件,所述支撑元件将所述面板连接到所述背板;和至少一个压缩密封件,所述至少一个压缩密封件在所述面板与所述背板之间形成中心充气室的外周,其中所述支撑元件与所述面板之间的接触面积小于所述面板的总表面积的1%;以及衬底基座模块,其被配置为加热并支撑半导体衬底,其中所述衬底基座模块的上表面在所述化学离析室内形成限定所述等温处理区的所述腔体的下壁,其中所述面板是陶瓷面板并且其中所述沉积设备进一步包括环形射频接触件,所述环形射频接触件由具有至少一个弯曲的金属带制成,其中所述环形射频接触件电性连接到嵌入所述陶瓷面板中的射频电极,并且其中所述环形射频接触件在所述背板与所述陶瓷面板之间形成外部气体充气室的外周,其中所述支撑元件包括至少一个向上延伸的凸起,所述凸起与所述陶瓷面板接触,其中所述至少一个向上延伸的凸起位于所述隔离环的内部环形凸缘上,其中所述隔离环的内部环形凸缘位于所述陶瓷面板的外部下方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于朗姆研究公司,未经朗姆研究公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410317527.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top