[发明专利]基于硅的中红外区磁谐振超材料结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410318204.X 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104090321A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 肖淑敏;孙四五;宋清海 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学深圳研究生院
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 代理人: 张立娟
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种基于硅的中红外区磁谐振超材料结构,其包括两部分,一部分是基板,另一部分是硅立方块,所述基板为玻璃基板,所述硅立方块周期性分布在所述玻璃基板上,硅立方块的边长为L,L的取值范围是在1微米至5微米之间,硅立方块的间距为W,W的取值范围是在1微米至5微米之间。还提供了上述的基于硅的中红外区磁谐振超材料结构的制备方法,采用光刻的方法获得上述结构。本发明有效减少电导损耗,实现集中在中红外波段的应用,如过滤器、偏振器、光谱发射器等的设计,特提出以下基于硅的中红外区磁谐振超材料结构以及相应的制备方案,真正实现低损耗、极化不敏感、可以三维扩展、低成本的磁谐振超材料。
搜索关键词: 基于 红外 谐振 材料 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于硅的中红外区磁谐振超材料结构,其特征在于:其包括两部分,一部分是基板,另一部分是硅立方块,所述基板为玻璃基板,所述硅立方块周期性分布在所述玻璃基板上,硅立方块的边长为L,L的取值范围是在1微米至5微米之间,硅立方块的间距为W,W的取值范围是在1微米至5微米之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学深圳研究生院,未经哈尔滨工业大学深圳研究生院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410318204.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code