[发明专利]一种虚拟合成标样的X射线荧光光谱基本参数法

摘要

本发明涉及一种虚拟合成标样的X射线荧光光谱基本参数法，属于X射线荧光光谱检测技术领域。将标准样品与基本参数法相结合，选择合适的工作条件，进行有效的谱线重叠校正和背景扣除等综合运用，得到各个元素的净强度值，再虚拟合成一个标准样品，建立一个用虚拟合成标准样品制作的基本参数法曲线，最终使用者采用几块标样即可建立同一基体材质的通用工作曲线，实现对同一基体的合金的成分准确检测，分析范围宽，基本参数法不受标准样品上下限的限制，不用购买大量标准样品，具有很大的经济效益。还可用于新材料的检测，满足高校研究所等研制新材料的检测，解决新材料无标准样品的问题。本方法在X射线荧光光谱仪检测领域具有广阔的应用前景。

主权项

一种虚拟合成标样的X射线荧光光谱基本参数法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1，针对某一基体合金选取相对应的标准样品，标准样品的选取原则：(1)先选取不少于3套含有多种元素的标准样品a，根据标准样品a选择标准样品b，再根据标准样品a和/或标准样品b选择标准样品c；(2)标准样品a：尽可能的包含多种元素；(3)标准样品b：包括标准样品a中缺失元素；(4)标准样品a和标准样品b中所含元素的总和履盖该基体合金能测的所有元素；(5)标准样品c：其中含有的某种元素比标准样品a和/或标准样品b中该种元素的含量高；步骤2样品的制备：将样品进行打磨处理，表面磨成纹理一致的光滑平面；选用120#铝砂纸水磨后，测Si元素；再用120#硅砂纸水磨后，测Al和其他元素；步骤3设置X射线荧光光谱仪的工作条件和待测元素分析线系，测量出该基体合金中含有的受共存元素谱线重叠干扰元素的重叠校正系数；步骤4利用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响得到每一个元素的扣除背景系数和通道材料影响系数；步骤5将步骤3得到的重叠校正系数和步骤4的扣除背景系数及通道材料影响系数添加到上述的X射线荧光光谱仪的工作条件中，对所有标准样品测定荧光强度，得到标准工作曲线；步骤6设定虚拟合成标准样品中各元素的含量值：含量高于1％的元素取分析范围的中间值；含量低于1％的元素取分析范围的上限；步骤7绘制虚拟合成标准样品的基本参数法曲线：将步骤6设定的虚拟合成标准样品中各元素的含量值代入步骤5得到的标准工作曲线中，将标准工作曲线转换成灵敏度系数曲线，在灵敏度系数界面的“数据”栏中会给出虚拟合成标准样品中各元素的理论强度和估计强度，估计强度是按理论强度×样品的灵敏度系数，再将该“数据”栏中的测量强度代入估计强度值，只留下虚拟合成标准样品的信息，即制成虚拟合成标准样品的基本参数法曲线；步骤8曲线保存和转移：初次安装步骤7中的虚拟合成标准样品基本参数法工作曲线，需对其进行校对调整，校对该工作曲线需选用5～7块不同材质的块料，用虚拟合成标准样品FP法工作曲线测定块料的化学成分和荧光强度，被测块料的荧光强度在虚拟合成单标FP法工作曲线上；若使用一段时间后，被测块料的荧光强度不在虚拟合成单标FP法工作曲线上，需要再次测定荧光强度。