[发明专利]一种多台阶微透镜制作方法以及光学元件台阶制作方法有效
申请号: | 201410321487.3 | 申请日: | 2014-07-07 |
公开(公告)号: | CN104330840A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 侯治锦;司俊杰;韩德宽;陈洪许;吕衍秋;丁嘉欣;张向锋;姚官生;王理文;杨雪峰;耿东锋 | 申请(专利权)人: | 中国空空导弹研究院 |
主分类号: | G02B3/00 | 分类号: | G02B3/00;G02B27/44;G03F7/00 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
地址: | 471009 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明涉及一种多台阶微透镜制作方法以及光学元件台阶制作方法,该方法通过仅有的一次掩膜光刻形成微透镜最内层环带,然后通过负性光刻胶背面曝光显影用作掩膜层,再经腐蚀、背面曝光显影,刻蚀形成基底的图形,然后进行循环得到按次序从内到外逐次得到环带图形;还提出了一种制作光学元件台阶的制作方法。从根本上避免了传统套刻方法制作微透镜制作因掩模版对准、光刻、刻蚀等工序中带来的不可避免的误差,减少了制作过程中的工艺步骤,降低了难度,满足了微透镜制作过程中高精度要求,有效的保证和提高了微透镜衍射效益等光学性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 台阶 透镜 制作方法 以及 光学 元件 | ||
【主权项】:
一种多台阶微透镜制作方法,其特征在于,该方法的步骤如下:1)在基片(1)的正面制作遮挡层(2);2)在遮挡层(2)上面涂覆正性光刻胶(3),利用掩模版(4)进行正面曝光、显影和腐蚀;3)至少在被腐蚀的区域涂覆负性光刻胶(5),负性光刻胶的厚度小于遮挡层(2)的厚度,从基片(1)背面曝光显影;4)从遮挡层的边缘侧向腐蚀遮挡层(2),腐蚀宽度为对应的台阶宽度;5)去除正性光刻胶(3);6)按照设计厚度刻蚀基片(1),刻蚀深度为对应台阶深度,去除负性光刻胶(5);7)根据需要的台阶个数,至少在遮挡层(2)上面涂覆正性光刻胶(3),从基片(1)背面曝光显影和腐蚀,然后重复步骤3)至6),直至完成所有的台阶。
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