[发明专利]一种基于概率统计模型的地平线检测方法有效
申请号: | 201410333896.5 | 申请日: | 2014-07-14 |
公开(公告)号: | CN104077789B | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 刘刚;朱凯;赵龙;张庆超 | 申请(专利权)人: | 上海电力学院 |
主分类号: | G06T7/20 | 分类号: | G06T7/20 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人: | 赵继明 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于概率统计模型的地平线检测方法,包括1)对原始图像进行金字塔分解,得到多分辨率的K层图像;2)对分解后的各层图像进行方向评估,获得边缘特征;3)在各层中对图像中的地平线构建概率统计模型;4)在每层图像中,根据像素点数目和边缘方向匹配这两个特性,利用MAP寻求最优区域,将其做标记,产生标记链;5)根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域,直至最后一层;6)对最底层的最优区域进行细化,根据最优区域与边缘特征的对应性搜索最优像素点;7)将所述最优像素点连接,即得到地平线。与现有技术相比,本发明具有检测结果真实有效、精确度高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 概率 统计 模型 地平线 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于概率统计模型的地平线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)对原始图像进行金字塔分解,得到多分辨率的K层图像;2)对分解后的各层图像进行方向评估,获得边缘特征;3)在各层中对图像中的地平线构建概率统计模型,所述概率统计模型为:P(ni(k)|l1(k),l2(k),l3(k)...ln(k))=P(ni(k)|li(k))~N(μ1,σ12)]]>P(di(k)|l1(k),l2(k),l3(k)...ln(k))=P(di(k)|li(k))~N(μ,σ2)]]>其中,表示第k层图像第i个窗口中标记值为1的像素点个数,1表示该像素点属于地平线;表示第k层图像寻找最优区域的结果的标记向量,表示第k层图像第i个窗口的标记,的取值范围:H={0,1},表示第k层图像第i个窗口的方向,的取值为:Γ={1,2,...36};4)在每层图像中,根据所述概率统计模型,在先验概率的基础上,基于像素点数目和边缘方向匹配这两个特性,利用MAP寻求最优区域,将其做标记,产生标记链;5)根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域,直至最后一层;6)对最底层的最优区域进行细化,根据最优区域与步骤2)得到的边缘特征的对应性搜索最优像素点;7)将所述最优像素点连接,即得到地平线;所述步骤5)中,根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域具体为:将上一层得到的结果关联至当前中的多个窗口中,计算关联后每个窗口的方向和方差,得到相应先验概率,采用最大后验估计MAP求取当前层图像的最优区域。
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