[发明专利]一种基于概率统计模型的地平线检测方法有效

专利信息
申请号: 201410333896.5 申请日: 2014-07-14
公开(公告)号: CN104077789B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 刘刚;朱凯;赵龙;张庆超 申请(专利权)人: 上海电力学院
主分类号: G06T7/20 分类号: G06T7/20
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司31225 代理人: 赵继明
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于概率统计模型的地平线检测方法,包括1)对原始图像进行金字塔分解,得到多分辨率的K层图像;2)对分解后的各层图像进行方向评估,获得边缘特征;3)在各层中对图像中的地平线构建概率统计模型;4)在每层图像中,根据像素点数目和边缘方向匹配这两个特性,利用MAP寻求最优区域,将其做标记,产生标记链;5)根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域,直至最后一层;6)对最底层的最优区域进行细化,根据最优区域与边缘特征的对应性搜索最优像素点;7)将所述最优像素点连接,即得到地平线。与现有技术相比,本发明具有检测结果真实有效、精确度高等优点。
搜索关键词: 一种 基于 概率 统计 模型 地平线 检测 方法
【主权项】:
一种基于概率统计模型的地平线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)对原始图像进行金字塔分解,得到多分辨率的K层图像;2)对分解后的各层图像进行方向评估,获得边缘特征;3)在各层中对图像中的地平线构建概率统计模型,所述概率统计模型为:P(ni(k)|l1(k),l2(k),l3(k)...ln(k))=P(ni(k)|li(k))~N(μ1,σ12)]]>P(di(k)|l1(k),l2(k),l3(k)...ln(k))=P(di(k)|li(k))~N(μ,σ2)]]>其中,表示第k层图像第i个窗口中标记值为1的像素点个数,1表示该像素点属于地平线;表示第k层图像寻找最优区域的结果的标记向量,表示第k层图像第i个窗口的标记,的取值范围:H={0,1},表示第k层图像第i个窗口的方向,的取值为:Γ={1,2,...36};4)在每层图像中,根据所述概率统计模型,在先验概率的基础上,基于像素点数目和边缘方向匹配这两个特性,利用MAP寻求最优区域,将其做标记,产生标记链;5)根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域,直至最后一层;6)对最底层的最优区域进行细化,根据最优区域与步骤2)得到的边缘特征的对应性搜索最优像素点;7)将所述最优像素点连接,即得到地平线;所述步骤5)中,根据上一层得到的最优区域对当前层图像计算最优区域具体为:将上一层得到的结果关联至当前中的多个窗口中,计算关联后每个窗口的方向和方差,得到相应先验概率,采用最大后验估计MAP求取当前层图像的最优区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电力学院,未经上海电力学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410333896.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top