[发明专利]一种跨尺度微纳米褶皱结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410335881.2 申请日: 2014-07-15
公开(公告)号: CN104129752A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 夏奇;高阳;徐瀚洋;汤自荣;史铁林 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 梁鹏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种跨尺度微纳米褶皱结构的制备方法,包括以下步骤:(1)清洗:将单晶硅片清洗干净并烘干;(2)匀胶:在单晶硅片上涂覆上一层光刻胶;(3)光刻:在单晶硅片上形成光刻胶阵列结构;(4)镀膜:在光刻胶阵列结构上镀上一层刚性薄膜;(5)热解:使光刻胶发生热解和收缩,刚性薄膜形成微纳米褶皱。本发明中光刻胶发生热解后形成的碳结构和刚性薄膜形成的微纳结构都具有较好的导电、导热性,可以用作微传感器、微燃料电池、生物芯片等微型器件的工作电极,能增大电极的比表面积及提高其工作效率。
搜索关键词: 一种 尺度 纳米 褶皱 结构 制备 方法
【主权项】:
一种跨尺度微纳米褶皱结构的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)、清洗:将单晶硅片用去离子水冲洗后再用丙酮超声清洗,然后将单晶硅片放入硫酸双氧水混合液中加热,取出后用去离子水将单晶硅片冲洗干净后用气体吹干,再将单晶硅片烘干后冷却至室温;(2)、匀胶:将单晶硅片放入匀胶机,在单晶硅片表面涂覆一层光刻胶,然后进行前期烘干处理;(3)、光刻:将表面涂覆有光刻胶的单晶硅片放入光刻机,利用光刻机对光刻胶进行曝光,然后用显影液显影,再使用去离子水将光刻胶和单晶硅片冲洗干净后用气体吹干,则单晶硅片上的光刻胶形成微米阵列结构,所述微米阵列结构由多个光刻胶单元排列而成;(4)、镀膜:将靶材和表面排列有微米阵列结构的单晶硅片放入镀膜机,在微米阵列结构的表面镀上一层刚性薄膜;(5)、热解:将带有微米阵列结构和刚性薄膜的单晶硅片放入管式炉,管式炉内部抽真空,通入氮气并将管式炉升温后保温;继而再通入氮气和氢气,然后再升温后保温,使光刻胶发生热分解及体积收缩,从而使光刻胶表面的刚性薄膜产生褶皱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410335881.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top