[发明专利]厚膜电路的视觉检测方法及系统在审
| 申请号： | 201410336690.8 | 申请日： | 2014-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN105335954A | 公开（公告）日： | 2016-02-17 |
| 发明（设计）人： | 周国烛;于京 | 申请（专利权）人： | 周国烛;于京 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 李芙蓉 |
| 地址： | 100015 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种厚膜电路的视觉检测方法及系统，其中，方法包括：采集待测电路基片的原始图像，对待测电路基片的原始图像进行处理，将待测电路基片的原始图像转化为可识别的只包含线路的基片线路骨骼图像，统计基片线路骨骼图像中的线路连接分量的数量，根据线路连接分量的数量判断待测电路基片中的线路连接是否存在短路和/或断路。本发明的厚膜电路的视觉检测方法及系统，实现了自动化的厚膜电路视觉检测，检测效率高，准确性好。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 视觉 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种厚膜电路的视觉检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S100，采集待测电路基片的原始图像；S200，对所述待测电路基片的原始图像进行处理，将所述待测电路基片的原始图像转化为可识别的只包含线路的基片线路骨骼图像；S300，统计所述基片线路骨骼图像中的线路连接分量的数量，根据所述线路连接分量的数量判断所述待测电路基片中的线路连接是否存在短路和/或断路。
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