[发明专利]电磁扰动多晶硅除杂装置及其方法无效

专利信息
申请号: 201410339743.1 申请日: 2014-07-17
公开(公告)号: CN104131342A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 姜大川;李鹏廷;林海洋;谭毅;王鹏 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C30B28/08 分类号: C30B28/08;C30B29/06
代理公司: 大连非凡专利事务所 21220 代理人: 曲宝威
地址: 116000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 电磁扰动多晶硅除杂装置及其方法,在炉体内下部设有石墨底座,在石墨底座上配有装入多晶硅料的坩锅,在炉体内位于坩锅周边设有与系统控制装置相接的加热体,在炉体内位于坩锅的外侧设有与系统控制装置相接的感应线圈。步骤如下:向坩锅内装入多晶硅料,关闭炉体的腔室,抽高真空,真空度小于0.1Pa;加温;硅料完全处于液态,进入长晶阶段;每一个小时测量一次固液界面高度,并控制固液界面的生长速度;当固液界面位置到达距硅液顶部3-8厘米的位置时,感应线圈通交变电流,产生磁感应力,使熔硅向中间聚集并形成凸起,通过调节交变电流弱化顶部高杂志区熔硅凝固的结合力,并最终形成凸性突起;冷却后出炉;去除凸性突起。提高了出成率,降低了成本。
搜索关键词: 电磁 扰动 多晶 装置 及其 方法
【主权项】:
一种电磁扰动多晶硅除杂装置,包括炉体(3),在炉体(3)内下部设有石墨底座(4),在石墨底座(4)上配有装入多晶硅料的坩锅(2),在炉体(3)内位于坩锅(2)周边设有与系统控制装置相接的加热体(1),其特征在于:在炉体(3)内位于坩锅(2)的外侧设有与系统控制装置相接的感应线圈(7)。
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