[发明专利]一种可调的非易失性存储器参考单元在审
申请号: | 201410341595.7 | 申请日: | 2014-07-17 |
公开(公告)号: | CN104134458A | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 李政;郭玮;康旺;赵巍胜 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C16/02 |
代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种可调的非易失性存储器参考单元,由两列串联的RX-NMOS-RX-NMOS结构并联而成,M1、M3被配置成低阻态,M2、M4被配置成高阻态,或者M1、M2被配置成低阻态,M3、M4被配置成高阻态,得到高低阻态存储单元电导或电阻的算数平均值;M1、M2的顶端连接位线BL,NMOS晶体管N3、N4源极连接源极线SL,NMOS晶体管N1、N2栅极连接字线WL;在第一种方案中,NMOS晶体管N3、N4的栅极共同连接可调字线WLA,为粗校准设计;在第二种方案中,NMOS晶体管N3、N4的栅极分别连接可调字线WLA1和可调字线WLA2,为精校准设计。本发明使信号接近最佳值,增大判决裕量,提高读取可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 可调 非易失性存储器 参考 单元 | ||
【主权项】:
一种可调的非易失性存储器参考单元,其特征在于:它由两列串联的RX‑NMOS‑RX‑NMOS结构并联而成,其中非易失性存储器件M1、M3被配置成低阻态,非易失性存储器件M2、M4被配置成高阻态,或者非易失性存储器件M1、M2被配置成低阻态,非易失性存储器件M3、M4被配置成高阻态,由此得到高低阻态存储单元电导或电阻的算数平均值;非易失性存储器件M1、M2的顶端连接位线BL,NMOS晶体管N3、N4源极连接源极线SL,NMOS晶体管N1、N2的栅极连接字线WL;在第一种设计方案中,NMOS晶体管N3、N4的栅极共同连接可调字线WLA,为粗校准设计;在第二种设计方案中,NMOS晶体管N3、N4的栅极分别连接可调字线WLA1和可调字线WLA2,为精校准设计;该参考单元中的NMOS晶体管N1和N2的栅极接字线WL,字线为低电平时,NMOS晶体管N1和N2处于断开状态,参考单元不可访问;当字线为高电平时且可调字线WLA或WLA1、WLA2为高电平时,NMOS晶体管处于导通状态,参考单元可访问并且可校准;在粗校准设计中,可调字线WLA提供包括Vdd在内的多种电压值,通过同时改变NMOS晶体管N3、N4的栅极电压而改变其电阻值,进而改变整个参考单元的电阻和电导值;在精校准设计中,可调字线WLA1和可调字线WLA2均提供包括Vdd在内的多种电压值,WLA1和WLA2有多种组合,每一组合都对应参考单元的一种电阻和电导值。
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