[发明专利]一种偏振光散射测量颗粒物的方法及装置有效
| 申请号： | 201410343086.8 | 申请日： | 2014-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN104089855A | 公开（公告）日： | 2014-10-08 |
| 发明（设计）人： | 曾楠;李达;马辉 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 余敏 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏振光散射测量颗粒物的方法及装置，测量时，将待测空气样品以恒定速度流过测试区，激光经聚焦偏振处理后照射所述测试区；包括以下步骤：1)探测当前颗粒物对激光散射后的散射光的Stokes矢量，所述Stokes矢量为表示散射光光强和偏振态的矢量；2)根据Stokes矢量分别计算得到散射光的偏振参量；3)将所述散射光的偏振参量与标准库中的散射光的标准偏振参量进行比对，查找最接近的一组标准偏振参量对应的粒径区间和折射率；4)根据折射率确定出当前颗粒物对应的成分，进而获得成分信息及其粒径区间信息。本发明方法及装置，可分析得到颗粒物的成分信息，且分析粒径分布时能准确区分小粒径粒子的粒径分布，同时成本也得到较好的控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏振光 散射 测量 颗粒 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种偏振光散射测量颗粒物的方法，其特征在于：将待测空气样品以恒定速度流过测试区，激光经聚焦偏振处理后照射所述测试区；探测分析当前流过测试区的空气样品中的当前颗粒物时，包括以下步骤：1)探测当前颗粒物对激光散射后的散射光的Stokes矢量，所述Stokes矢量为表示散射光光强和偏振态的矢量；2)根据步骤1)检测的Stokes矢量分别计算得到散射光的偏振参量，包括线偏振度DOPL、圆偏振度DOPC、取向角![]()
和椭圆率α；3)将所述散射光的偏振参量与标准库中的散射光的标准偏振参量进行比对，查找最接近的一组标准偏振参量对应的粒径区间和折射率；4)根据步骤3)查找的折射率确定出当前颗粒物对应的成分，进而获得成分信息及其粒径区间信息。
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