[发明专利]一种薄膜晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410346471.8 申请日: 2014-07-21
公开(公告)号: CN104134613B 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 高金字;吕雅茹;鍾享顯;陸文正 申请(专利权)人: 福州华映视讯有限公司;中华映管股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786
代理公司: 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 代理人: 戴雨君
地址: 350000 福建*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制造薄膜晶体管的方法,包含下列步骤:形成闸极于基板上;形成闸极绝缘层于闸极上;形成图案化半导体层于闸极绝缘层上;形成源极于图案化半导体层上;氧化源极的外围部份以形成氧化层,其中氧化层覆盖源极及部分的图案化半导体层;形成保护层与氢离子,其中保护层覆盖氧化层与图案化半导体层;以及以氢离子掺杂未被氧化层覆盖的图案化半导体层,以形成汲极。本发明亦提供一种薄膜晶体管。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,其特征在于:其包含:一基板;一闸极,位于该基板上;一闸极绝缘层,位于该闸极上;一结构层,位于该闸极绝缘层上,该结构层包含一半导体层以及一汲极,该汲极与半导体层相邻连接;一源极,位于部分的该半导体层上;一氧化层,覆盖该源极与未被该源极覆盖的该半导体层;以及一保护层,位于该汲极与该氧化层上,其中,该氧化层的厚度小于3μm;氧化层隔开源极与汲极,源极与汲极之间的区域即为TFT的信道,氧化层的厚度即为TFT的信道的长度。
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