[发明专利]一种检验金属件线形尺寸范围的装置有效
申请号: | 201410347973.2 | 申请日: | 2014-07-21 |
公开(公告)号: | CN104121848B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 崔宪莉;连波 | 申请(专利权)人: | 北京无线电测量研究所 |
主分类号: | G01B7/28 | 分类号: | G01B7/28 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种检验金属件线形尺寸范围的装置,包括校对块、基准块、检具板、测针、发光二极管、电池及电阻,所述校对块位于基准块的顶部,且与基准块相连接,所述检具板位于校对块的顶部,且检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上,所述检具板的中心设有一螺纹通孔,所述测针通过其尾部穿过螺纹通孔与所述检具板相连接;所述发光二极管的正极通过导线与电池的正极相连,其负极通过导线与电阻的一端相连接,所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接,金属件的另一端与所述电池的负极相连接,所述检具板的下表面与所述金属件上的测量基准面贴合。本发明用于检验金属件的线形尺寸是否在要求的公差带内,测量结果直观。 | ||
搜索关键词: | 一种 检验 金属件 线形 尺寸 范围 装置 | ||
【主权项】:
一种检验金属件线形尺寸范围的装置,包括检具板和校对块,其特征在于:还包括基准块、测针、发光二极管、电池及电阻,所述校对块位于所述基准块的顶部,且与所述基准块相连接,所述检具板位于所述校对块的顶部,且所述检具板的一端的下表面贴合在所述校对块的上表面上,所述检具板的中心设有一螺纹通孔,所述测针通过其尾部穿过所述螺纹通孔与所述检具板相连接;所述发光二极管的正极通过导线与所述电池的正极相连,其负极通过导线与所述电阻的一端相连接,所述电阻的另一端通过导线与金属件的一端相连接,所述金属件的另一端与所述电池的负极相连接,所述检具板的下表面与所述金属件上的测量基准面贴合。
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