[发明专利]晶片型可插入磁通计有效

专利信息
申请号: 201410350039.6 申请日: 2014-07-22
公开(公告)号: CN104748802B 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 约瑟夫·艾伦·史密斯;杰弗里·艾伦·科塔;布赖恩·斯科特·扬克;史蒂文·布鲁斯·罗杰斯 申请(专利权)人: 微动公司
主分类号: G01F1/58 分类号: G01F1/58
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 李江晖
地址: 美国科*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于测量过程流体的流量的磁通计包括仪表主体,具有形成在所述仪表主体中的开口。仪表主体构造成用于串联插入承载过程流体的过程管道之间。能够移动的延伸部连接到仪表主体,并构造成用于延伸进入过程管道。线圈通过延伸部承载,并构造成用于产生磁场。一对电极感测作为施加的磁场和过程流体的流量的函数产生的在过程流体中的电动势。
搜索关键词: 晶片 插入 磁通计
【主权项】:
一种磁通计,该磁通计用于测量过程流体的流量,所述磁通计包括:仪表主体,所述仪表主体具有形成在该仪表主体中的开口,所述仪表主体构造成用于串联插入承载过程流体的过程管道之间;能够移动的延伸部,所述能够移动的延伸部连接到仪表主体,并且构造成用于相对于所述仪表主体移动并且在打开位置中延伸进入过程管道以及在关闭位置中至少部分地覆盖所述仪表主体的开口;线圈,所述线圈承载在能够移动的延伸部上,构造成用于产生被引导进入过程流体中的磁场;和一对电极,所述一对电极构造成用于感测作为磁场和过程流体的流量的函数产生的在过程流体中的电动势。
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