[发明专利]一种光检测方法及电子设备在审
| 申请号： | 201410351024.1 | 申请日： | 2014-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN105277277A | 公开（公告）日： | 2016-01-27 |
| 发明（设计）人： | 阳光;张振华 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 蒋雅洁;任媛 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光检测方法及电子设备，所述光检测方法应用于电子设备中，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；所述光检测方法包括：利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
一种光检测方法，该方法应用于电子设备中，其特征在于，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；所述光检测方法包括：利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。
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