[发明专利]用于识别多个电化学存储单元中的温度升高的方法和设备在审
| 申请号： | 201410351346.6 | 申请日： | 2014-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN104344909A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | S.布茨曼;J.伯梅 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/22 | 分类号： | G01K7/22;H01M10/48 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张涛;胡莉莉 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提出用于识别多个电化学存储单元中的温度升高的一种方法和一种设备。根据本发明，在此求得分别与存储单元热耦合的PTC元件的电串联电路的电特征参量，以及当对所述电特征参量的分析结果达到预定义的阈值时，识别出多个电存储单元之一的温度升高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 识别 电化学 存储 单元 中的 温度 升高 方法 设备 | ||
【主权项】：
用于识别多个电化学存储单元（2）中的温度升高的方法，包括步骤：‑求得（100）分别与存储单元热耦合的PTC元件（3）的电串联电路的电特征参量，以及‑当对所述电特征参量的分析结果达到预定义的阈值时，识别出（200）电存储单元（2）之一中的温度升高。
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