[发明专利]具有横向延伸部分的晶体管的嵌入式源极或漏极区在审
申请号: | 201410352654.0 | 申请日: | 2014-07-23 |
公开(公告)号: | CN104810292A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 张哲诚;陈建颖;张永融 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/41 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 在一些实施例中,在一种方法中,提供其上配置有栅极结构的体结构。栅极结构包括横穿体结构的栅极侧壁。在栅极侧壁上方形成间隔件。在体结构中形成第一凹槽。第一凹槽形成在间隔件旁边并且在间隔件下面横向延伸。在第一凹槽下面形成凹槽延伸部,以延伸第一凹槽的垂直深度。生长晶格常数不同于体结构的应力源材料,使得延伸的第一凹槽被填充。本发明还提供了具有横向延伸部分的晶体管的嵌入式源极或漏极区。 | ||
搜索关键词: | 具有 横向 延伸 部分 晶体管 嵌入式 漏极区 | ||
【主权项】:
一种方法,包括:提供其上配置有栅极结构的体结构;所述栅极结构包括横穿所述体结构的栅极侧壁;在所述栅极侧壁上方形成间隔件;在所述体结构中形成第一凹槽,所述第一凹槽形成在所述间隔件旁边并且在所述间隔件下面横向延伸;在所述第一凹槽下面形成凹槽延伸部以延伸所述第一凹槽的垂直深度;以及生长晶格常数不同于所述体结构的应力源材料,使得延伸的第一凹槽被填充。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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