[发明专利]一种电阻负载系数的自校准测试方法

摘要

本发明提供一种电阻负载系数的自校准测试方法，用于电阻负载系数的自校准及其他电阻负载系数的测试。该方法首先用同一阻值和型号的多个小型电阻元件构造两个结构不同的四线整体电阻，构造的要点是每个整体电阻中各个电阻元件的负载一样，但不同整体电阻中的电阻元件的负载不同；所用的小型电阻元件事先进行测试，保证温度特性一致。然后，用直流电流比较仪DCC电桥测得这两个电阻的负载系数；在整个测量过程中DCC电桥处于不重启的工作状态。本发明解决了传统测试方法中只能求出两个电阻负载系数之差和测量精度不高的难题，任意一个上述电阻均可作为负载系数已知的参考电阻，再利用DCC电桥测量出其它被测电阻的负载系数。

主权项

一种电阻负载系数的自校准测试方法，其能够进行电阻负载系数的自校准及其他电阻负载系数的测试，其特征在于，用同一阻值和型号的多个小型电阻元件串并联而成为不同的整体四线电阻，使得整体四线电阻的电流引线中通电流时，所述整体四线电阻的电阻元件的电压降一样，从而使得每个电阻元件的负载一样，其中，不同的整体四线电阻中各个电阻元件上的电压成一固定比值ξ，所述固定比值ξ不随DCC电桥输出电压的变化而变化，所用的小型电阻元件应事先进行测试，保证其温度特性一致；其中，用不同的串并联方式构造两个不同结构的整体四线电阻A和B，当这两个整体四线电阻用DCC电桥进行比较测量时，整体四线电阻A和整体四线电阻B电压引线上的电压是相等的，但整体四线电阻A中的电阻元件和整体四线电阻B中的电阻元件的负载不同；构成整体四线电阻A和整体四线电阻B后，负载系数自校准测试步骤如下：(1)用DCC电桥测定整体四线电阻A和整体四线电阻B的比例γ1；(2)改变电阻A和电阻B输入电压的大小，再次用DCC电桥测量整体四线电阻A和整体四线电阻B的比例γ2，在整个测量过程中DCC电桥处于不重启的工作状态；(3)利用所得的两个比例值γ1和γ2计算出整体四线电阻A和整体四线电阻B的负载系数。