[发明专利]一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法

摘要

本发明涉及一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法，利用自回归模型计算生成ADC磁共振图像。利用多个且等间隔b值DWI序列可采集得到多幅不同b值的磁共振图像，对采集得到的所有像素的磁共振信号进行线性积分，即：利用Simpson数值积分法则对信号点做关于b值的多段等间隔积分，再建立自回归模型，最后对自回归模型参数进行最大似然估计得到ADC。是一种更加精确快速的计算E指数衰减系数的算法，该算法可以用于磁共振成像技术中快速精确计算ADC图像。本发明能够显著ADC磁共振图像计算效率和精确性，适用于放射科临床上各种相关疾病的诊断和研究。

主权项

一种利用自回归模型计算磁共振图像表观弥散系数的方法，其特征在于，具体包括如下步骤：1) 用多个且等间隔b值DWI成像序列采集得到多幅不同b值的磁共振图像；2) 对采集的多b值DWI图像信号：从第一个b值到第三个b值开始，进行两个b值间隔长度（相邻三个数据点）的Simpson法则数值积分，然后从第二个b值到第四个b值进行两个b值间隔长度（相邻三个数据点）的Simpson法则数值积分，依次下去，从而形成一个DWI积分数值随b值变化的信号序列；3) 将所述DWI信号积分的序列建立成自回归模型，最后一个b值DWI信号值可表示成由邻近的前两个b值DWI信号值的线性组合形式；4) 对步骤3）建立的自回归模型进行最大似然估计从而求解系数得到表观弥散系数ADC值；5) 对步骤1）的磁共振图像中被试体内所有像素计算ADC值，得到所述磁共振ADC图像。