[发明专利]用于测量高强度光束的系统和方法有效
| 申请号： | 201410364162.3 | 申请日： | 2014-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN104501946B | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | S·阿尼基谢威;D·盖恩斯 | 申请（专利权）人： | 超科技公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 陈华成 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于测量高强度光束的系统和方法，公开了用于测量光束的强度特性的系统和方法。所述方法包括将光束引导到包括由两个透明板夹在中间的薄棱镜的棱镜组件中，以及由全内反射表面将光束的一部分反射到积分球，同时将光束的剩余部分通过两个透明板发射到光束收集器。方法还包括检测由积分球捕获的光束并且根据所检测的光束确定光束的强度特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 强度 光束 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测量光束的强度特性的方法，包括：将所述光束引导到包括由两个透明板夹在中间的薄棱镜的棱镜组件中，其中所述薄棱镜具有宽度d和全内反射TIR表面，其中全内反射TIR表面具有面积；通过所述全内反射TIR表面将所述光束的一部分反射到积分球，同时将所述光束的剩余部分通过所述两个透明板透射到光束收集器；检测由所述积分球捕获的光束的一部分；以及根据检测的光束确定所述光束的强度特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于超科技公司，未经超科技公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410364162.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种新型反应釜密闭性检测装置
- 下一篇：双励磁回路电磁流量计
