[发明专利]岩石孔隙结构参数反演方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201410364269.8 申请日: 2014-07-28
公开(公告)号: CN104316962B 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 白俊雨 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30;G01N15/08
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 代理人: 朱绘,张文娟
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种岩石孔隙结构参数反演方法及其系统,该反演方法包括以下步骤背景场约束的建立步骤,均匀采样步骤,误差函数的建立步骤以及反演提取步骤。以岩石孔隙结构参数与常规测井曲线的经验关系为基础,建立背景场约束对岩石孔隙结构参数进行优选,解决了现有岩石孔隙结构参数提取方法中的不确定性问题,突破了实验室实验方法的限制,所需参数少,应用范围广,具有计算速度快、稳定性好的优点,能够为横波速度预测及储层预测工作提供基础资料。
搜索关键词: 岩石 孔隙 结构 参数 反演 方法 及其 系统
【主权项】:
一种岩石孔隙结构参数反演方法,其特征在于,包括以下步骤:背景场约束的建立步骤,基于测井数据和设定的尺度调节系数建立岩石孔隙结构参数的背景场约束;均匀采样步骤,根据所述背景场约束确定背景场约束的范围,在所述背景场约束的范围内根据给定的岩石孔隙结构参数的采样率进行均匀采样;误差函数的建立步骤,根据每次采样到的岩石孔隙结构参数正演得到纵波速度和横波速度,利用正演得到的纵波速度和横波速度,结合测井得到的实测纵波速度和横波速度,建立误差函数;反演提取步骤,比较各个采样点的误差函数,将误差函数最小值所对应的岩石孔隙结构参数提取为反演结果;根据以下表达式建立岩石孔隙结构参数的背景场约束:C=[Cl,Cu]Cl=(1-β)×αsCu=(1+β)×αs]]>式中,C为背景场约束,Cl为背景场约束的下边界,Cu为背景场约束的上边界,β为尺度调节系数,αs为利用测井数据得到的岩石孔隙结构参数的初始值。
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