[发明专利]材料参数的确定方法及装置在审
| 申请号： | 201410368147.6 | 申请日： | 2014-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN104156518A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 魏志刚;陈效华 | 申请（专利权）人： | 奇瑞汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 江崇玉 |
| 地址： | 241006 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料参数的确定方法及装置，属于材料技术领域。方法包括：确定材料的立方体试样上的位移测量点；确定每个位移测量点在立方体试样上的第一坐标；对立方体试样进行伸缩，确定每个位移测量点在伸缩后的立方体试样上的第二坐标；建立与立方体试样匹配的有限元模型，并确定材料参数的参考值；根据材料参数的参考值、有限元模型、位移测量点在立方体试样上的第二坐标确定材料参数的最终值。本发明通过根据材料参数的参考值、有限元模型、位移测量点在立方体试样上的第二坐标确定材料参数。由于可通过将实际实验的结果与模拟实验的仿真过程相结合来确定材料参数，而不用进行大量的实验及计算过程。因此，确定材料参数的效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 参数 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种材料参数的确定方法，其特征在于，所述方法包括：确定材料的立方体试样上的位移测量点，所述位移测量点至少包括所述立方体试样上任一一条棱边的端点及所述棱边的中点；确定每个位移测量点在所述立方体试样上的第一坐标；对所述立方体试样进行伸缩，确定每个位移测量点在伸缩后的立方体试样上的第二坐标；根据每个位移测量点在所述立方体试样上的第一坐标建立与所述立方体试样匹配的有限元模型，并确定材料参数的参考值；根据所述材料参数的参考值、所述有限元模型、所述位移测量点在所述立方体试样上的第二坐标确定所述材料参数的最终值。
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