[发明专利]卫星总漏率测试用取放样装置及取放样标定方法有效

专利信息
申请号: 201410369471.X 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104089745A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 师立侠;冯琪;刘胜;洪晓鹏;杨定魁;丁冉 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种卫星总漏率测试过程中使用的取放样装置主要包括具有固定容积的腔体、腔体上方连通设置有十字相交的横管和纵管,横管与纵管的内部呈十字连通结构,横管两端分别用作总漏率测试用的气体取样口和气体放样口,纵管顶部设置有开关阀门以分别针对取样和放样过程对腔体内的气体进出横管进行控制、开关阀门与纵管的内侧设置有0型密封圈以防止气体在取放样过程中从纵管上端逸出。本发明还公开了一种利用该装置取放样的方法。该方法与现有技术相比,可实现在卫星总漏率测试现场快速进行测试系统的标定工作,缩短了标定周期,有效避免了环境发生变化时引起的标准漏孔的漏率偏差,提高了测试系统标定的准确性。
搜索关键词: 卫星 总漏率 测试 用取放样 装置 取放样 标定 方法
【主权项】:
一种卫星总漏率测试用取放样装置,包括具有固定容积的腔体、腔体上方连通设置有十字相交的横管和纵管,横管与纵管的内部呈十字连通结构,横管两端分别用作总漏率测试用的气体取样口和气体放样口,纵管顶部设置有开关阀门以分别针对取样和放样过程对腔体内的气体进出横管进行控制、开关阀门与纵管的内侧设置有0型密封圈以防止气体在取放样过程中从纵管上端逸出。
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