[发明专利]保护盖结构在审

专利信息
申请号: 201410369999.7 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104349630A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 花冈清隆;金森孝训;和田刀贡臣 申请(专利权)人: 矢崎总业株式会社
主分类号: H05K5/02 分类号: H05K5/02;H05K5/06;H01R24/00;H01R13/52
代理公司: 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 代理人: 吴立;文琦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种保护盖结构,包括:保护盖,该保护盖嵌合到布置在容纳电气元件的壳体的壁中的组装操作开口,由此封闭所述开口;以及嵌合检测连接器,该嵌合检测连接器检测保护盖嵌合到组装操作开口。嵌合检测连接器包括:接受连接器,该接受连接器固定到壳体的内部;以及插/拔连接器,该插/拔连接器以互相能插/拔的方式布置在保护盖上,同时与接受连接器对置。接受连接器包括管状外壳以及该管状外壳中的嵌合检测导体。插/拔连接器保持一对检测电极,该对检测电极与嵌合检测导体电导通,并且该对检测电极与保护盖一体地成型。
搜索关键词: 保护 结构
【主权项】:
一种保护盖结构,包括:保护盖,该保护盖嵌合到组装操作开口,由此封闭所述开口,所述开口布置在容纳电气元件的壳体的壁中;以及嵌合检测连接器,该嵌合检测连接器检测所述保护盖嵌合到所述组装操作开口,其中,所述嵌合检测连接器包括:接受连接器,该接受连接器固定到所述壳体的内部;以及插/拔连接器,该插/拔连接器以互相能插/拔的方式布置在所述保护盖上,并与所述接受连接器对置,所述接受连接器包括:管状外壳;以及该管状外壳中的嵌合检测导体,并且所述插/拔连接器保持一对检测电极,该一对检测电极与所述嵌合检测导体电导通,并且该一对检测电极与所述保护盖一体地成型。
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