[发明专利]一种激光测距的校准方法、校准装置及测量仪器

摘要

本发明涉及一种解决了现有技术中电路响应时间长、容易产生机械故障、使用寿命短或者成本高、容易产生同频干扰的问题的激光测距的校准方法。包括以下步骤：发射装置发射第一光波，第一光波一部分被第一接收装置接收、作为外光路第一信号，第一光波另一部分被被测目标反射折回后被第二接收装置接收、作为外光路第二信号；发射装置发射不同波长的第二光波，第二光波一部分被第一接收装置接收、作为内光路第一信号，第二光波另一部分被第二接收装置接收、作为内光路第二信号；四路信号进行相位比较，并输出消除部分基底参考的内光路相位信号和外光路相位信号，再对内光路相位信号、外光路相位信号进行相位比较，输出最终消除基底参考的相位信号。

主权项

一种激光测距的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：发射装置发射第一光波，所述第一光波一部分被第一接收装置接收、作为外光路第一信号，所述第一光波另一部分被被测目标反射折回后被第二接收装置接收、作为外光路第二信号；发射装置发射第二光波，所述第二光波一部分被第一接收装置接收、作为内光路第一信号，所述第二光波另一部分被第二接收装置接收、作为内光路第二信号；所述内光路第二信号、外光路第二信号与所述内光路第一信号、外光路第一信号进行相位比较，并输出消除部分基底参考的内光路相位信号和外光路相位信号，再对内光路相位信号、外光路相位信号进行相位比较，输出最终消除基底参考的相位信号；所述第一光波和第二光波根据高频振荡信号调制生成，并且所述第一光波的波长不等于第二光波的波长。