[发明专利]分子水平上的系谱重建的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201410371632.9 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104134016B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 闫军;张彦丽;吴俊;张莹莹;吴成琼 申请(专利权)人: 北京诺禾致源科技股份有限公司
主分类号: G06F19/16 分类号: G06F19/16
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 吴贵明,张永明
地址: 100044 北京市昌平区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种分子水平上的系谱重建的方法和装置。该方法包括以下步骤对系谱内所有样品两两进行染色体比对,得到所有样品中两两相比所得的相同染色体区段信息;根据所有样品中两两相比所得的相同染色体区段信息,对全基因组进行遗传区块划分,得到多个不同类型的遗传区块;根据每个遗传区块的类型的不同,对系谱内的所有样品进行遗传区块组划分,得到多组遗传区块样品组;根据系谱中各样品间已知的遗传关系,对每组遗传区块样品组中的每个样品的遗传区块的遗传起源进行推断,得到系谱内所有样品的遗传区块的遗传起源;从而完成分子水平上的系谱重建。本发明的方法且具有严谨、功能全面、操作简单以及兼容性好的突出优势。
搜索关键词: 分子 水平 系谱 重建 装置 方法
【主权项】:
一种分子水平上的系谱重建的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:对系谱内所有样品两两进行染色体比对,得到所有样品中两两相比所得的相同染色体区段信息;根据所述所有样品中两两相比所得的相同染色体区段信息,对全基因组进行遗传区块划分,得到多个不同类型的遗传区块;根据每个所述遗传区块的类型的不同,对所述系谱内的所有样品进行遗传区块组划分,得到多组遗传区块样品组;根据所述系谱中各样品间已知的遗传关系,对每组所述遗传区块样品组中的每个样品的所述遗传区块的遗传起源进行推断,得到系谱内所有样品的遗传区块的遗传起源;从而完成所述分子水平上的系谱重建;所述系谱为由直系同源系谱和非直系同源系谱构成的系谱,所述方法还包括:在对所述多组遗传区块样品组中的每个样品的各所述遗传区块的遗传起源进行推断之前,按照直系同源关系对所述非直系同源系谱进行系谱拆分的步骤;以及在对所述多组遗传区块样品组中的每个样品的各所述遗传区块的遗传起源进行推断之后,对所述非直系同源系谱进行系谱整合的步骤。
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