[发明专利]一种基于哈尔小波的晶粒尺寸无损评价方法有效
| 申请号： | 201410373084.3 | 申请日： | 2014-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN104101651A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 李雄兵;宋永锋;田红旗;高广军;胡宏伟;倪培君;刘锋;杨岳;刘希玲 | 申请（专利权）人： | 中南大学 |
| 主分类号： | G01N29/11 | 分类号： | G01N29/11 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 郝瑞刚 |
| 地址： | 410075 湖南省长沙市韶*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于哈尔小波的晶粒尺寸无损评价方法，所述方法通过对参考试块进行数据采集，利用哈尔小波变换得到时间-尺度分布，进一步计算各个参考模块的平均多尺度衰减系数，再结合预设尺度组合以及预设归一化权重建立平均晶粒尺寸超声多尺度衰减评价模型，最后利用建立的平均晶粒尺寸超声多尺度衰减评价模型对晶粒尺寸未知的试块进行晶粒尺寸评价。该方法能够降低晶粒尺寸测量的系统误差，对金相法测得平均晶粒尺寸为103.5μm的测试试块，评价的结果为101.7μm，误差控制在±2％，可见，通过对原始超声A波信号的多尺度分析，本发明的方法能发现原始超声A波信号中更丰富的晶粒尺寸信息，进而提高晶粒尺寸无损评价的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 哈尔小波 晶粒 尺寸 无损 评价 方法 | ||
【主权项】：
一种基于哈尔小波的晶粒尺寸无损评价方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、采集各个参考试块的平均厚度、各个参考试块的平均晶粒尺寸、每个所述参考试块的S个原始超声A波信号；S2、对S个所述原始超声A波信号的表面一次回波和底面一次回波进行哈尔小波变换，得到时间‑尺度分布，并计算各个参考模块的尺度‑平均衰减系数分布，从而计算各个参考模块的平均多尺度衰减系数；S3、利用所述平均多尺度衰减系数，结合预设尺度组合以及预设归一化权重建立平均晶粒尺寸超声多尺度衰减评价模型；S4、利用所述步骤S3得到的平均晶粒尺寸超声多尺度衰减评价模型对晶粒尺寸未知的试块进行晶粒尺寸评价。
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