[发明专利]用于过程变量的光学测量的装置和包括该装置的测量设备

摘要

一种用于介质的至少一个过程变量光学测量的装置，包括光源；光接收器；光学传感器元件；和数据处理单元，该装置中设置光导体，其中该光导体将光源与光学传感器元件连接并且将该光学传感器元件与光接收器连接；其中，该光导体具有第一臂、第二臂和第三臂；第一臂被布置在光源处使得发射的光进入到该第一臂；第二臂被布置在光接收器处使得从第二臂接收的光进入到光接收器；第三臂被布置在光学传感器元件处使得从该第三臂发射的光撞击该光学传感器元件并且从该光学传感器元件接收的光进入到该第三臂。

主权项

一种测量设备(1)，包括：用于介质(14)中的至少一个过程变量的光学测量的装置(13)，其中，所述测量设备(1)包括传感器侧部件(4)和发送器侧部件(2)，其中，所述装置(13)定位在所述传感器侧部件(4)上/中，其中，从所述发送器侧部件(2)至所述传感器侧部件(4)单向地传输能量，并且双向传输数据，并且所述传感器侧部件(4)和所述发送器侧部件(2)经流电隔离连接(5、6)彼此耦接，或所述传感器侧部件(4)和所述发送器侧部件(2)流电耦接并且经流电隔离连接(5、6)与控制系统连接，所述装置(13)包括：–用于发射光的至少一个光源(8)，–用于接收光的至少一个光接收器(9)，其中，所述光接收器(9)把接收的光变换成电测量变量，–光学传感器元件(11)，其中，所述光学传感器元件(11)被安置以至少部分与所述介质(14)相接触并且把发射的光转换成接收的光，和–至少一个数据处理单元(7)，所述至少一个数据处理单元(7)用于操作和控制所述光源和/或用于把所述电测量变量处理成所述过程变量，所述装置的特征在于设置光导体(10)，其中，所述光导体(10)把所述光源(8)与所述光学传感器元件(11)连接并且把所述光学传感器元件(11)与所述光接收器(9)连接，其中，所述光导体(10)利用至少三个臂来实施并且具有第一臂(10.1)、第二臂(10.2)和第三臂(10.3)，其中，所述第一臂(10.1)被布置在所述光源(8)处以使得发射的光进入所述第一臂(10.1)中，其中，所述第二臂(10.2)被布置在所述光接收器(9)处以使得从所述第二臂(10.2)接收的光进入所述光接收器(9)中，其中，所述第三臂(10.3)被布置在所述光学传感器元件(11)处以使得从所述第三臂(10.3)发射的光撞击所述光学传感器元件(11)并且从所述光学传感器元件(11)接收的光进入所述第三臂(10.3)中，并且其中，所述第一臂(10.1)和所述第二臂(10.2)结合以形成所述第三臂(10.3)。