[发明专利]一种基于PAD控制多路信号测试的方法及系统在审
| 申请号： | 201410375296.5 | 申请日： | 2014-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN104155598A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 丁一;吴劲;胡建国;段志奎;王德明;郝志刚 | 申请（专利权）人： | 中山大学;广州中大数码科技有限公司;广州中大微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 510000 *** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于PAD控制多路信号测试的方法及系统，其方法包括：基于多路信号源设置多选一逻辑门可控电路，所述多选一逻辑门可控电路由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成；将多路测试信号接入到多选一逻辑门可控电路的可控开关上；基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD；PAD输出单向输出的测试信号到测试端。本发明实施例可以大大缩小了PAD版图面积，更是让测试更加便利，节约了投片和测试的成本，大大提高了测试力度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 pad 控制 信号 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种基于PAD控制多路信号测试的方法，其特征在于，包括如下步骤：基于多路信号源设置多选一逻辑门可控电路，所述多选一逻辑门可控电路由非门、或非门、与非门和可控开关组合而成；将多路测试信号接入到多选一逻辑门可控电路的可控开关上，每一路测试信号接入一路可控开关；基于可变寄存器中数字控制源控制着多路测试信号的单向输出到集成电路中的压焊块PAD；PAD输出单向输出的测试信号到测试端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学;广州中大数码科技有限公司;广州中大微电子有限公司，未经中山大学;广州中大数码科技有限公司;广州中大微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410375296.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
