[发明专利]晶圆级芯片的封装工艺有效

专利信息
申请号: 201410378126.2 申请日: 2014-08-04
公开(公告)号: CN104167387B 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 赖芳奇;张志良;吕军;陈胜 申请(专利权)人: 苏州科阳光电科技有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/312
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司32103 代理人: 马明渡,王健
地址: 215143 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种晶圆级芯片的封装工艺,包括以下步骤将晶圆级芯片固定于所述晶圆级静电喷涂装置上;开启静电发生器从而使得金属托盘带上正电荷或负电荷,从而在晶圆级芯片表面、盲孔侧表面和底部形成一层均匀的保护光阻层;将曝光后的晶圆级芯片放置于封闭显影机的腔体内,对盲孔底部进行显影,暴露出盲孔底部的钝化层;通过蚀刻去除位于引脚焊盘正上方的钝化层、氧化硅层,从而露出引脚焊盘;在盲孔四壁、底部以及晶圆级芯片表面镀覆一金属导电层,此金属导电层与引脚焊盘电连接。本发明有利于在高深宽比的盲孔内,将保护光阻液均匀覆盖于盲孔四壁、底部,提升产品性能,也提高了后续显影的精度,进一步提升电性能、产品可靠性和良率。
搜索关键词: 晶圆级 芯片 封装 工艺
【主权项】:
一种晶圆级芯片的封装工艺,其特征在于:所述晶圆级芯片(1)表面的四周边缘区域分布有若干个盲孔(2),所述晶圆级芯片(1)表面和盲孔(2)侧表面、底部具有钝化层(3),位于此盲孔(2)底部钝化层(3)下方具有氧化硅层(4),一引脚焊盘(5)位于氧化硅层(4)与盲孔(2)相背的一侧且位于盲孔(2)正下方;所述重布线制造工艺包括以下步骤:步骤一、将晶圆级芯片(1)固定于一晶圆级静电喷涂装置(6)上;所述晶圆级静电喷涂装置(6)包括腔体(7)、金属托盘(8)、喷嘴(9)和静电发生器(10),所述喷嘴(9)上端安装有高压气体输入管(11),喷嘴(9)侧壁安装有用于传输保护光阻层的液体传输管(12),所述金属托盘(8)设置于腔体(7)底部的中央区域,所述静电发生器(10)的第一电极输出端通过导线连接到金属托盘(8),所述静电发生器(10)的第二电极输出端通过导线连接到喷嘴(9),所述晶圆级芯片(1)放置于所述金属托盘(8)上表面上,至少2个固定于金属托盘(8)边缘区域的压爪(13)夹持所述晶圆级芯片(1)边缘区;步骤二、开启所述静电发生器(10)从而使得金属托盘(8)带上正电荷或负电荷,喷嘴(9)带上正电荷或负电荷,金属托盘(8)和喷嘴(9)带电荷相反,保护光阻液从液体传输管(12)进入喷嘴(9)并在来自高压气体输入管(11)的高压氮气驱动下,喷射至晶圆级芯片(1)表面、盲孔(2)侧表面和底部从而在晶圆级芯片(1)表面、盲孔(2)侧表面和底部形成一层均匀的保护光阻层(14),所述保护光阻液带上正电荷或负电荷;步骤三、使用步进曝光机对晶圆级芯片(1)的盲孔(2)底部保护光阻层(14)进行曝光;步骤四、将曝光后的晶圆级芯片(1)放置于封闭显影机(15)的腔体内,对盲孔(2)底部进行显影,显出工艺窗口从而暴露出盲孔(2)底部的钝化层(3);步骤五、通过蚀刻去除位于引脚焊盘(5)正上方的钝化层(3)、氧化硅层(4),从而露出引脚焊盘(5);步骤六、用物理气相沉积或者电子束蒸发在盲孔(2)四壁、底部以及晶圆级芯片(1)表面镀覆一金属导电层(16),此金属导电层(16)与引脚焊盘(5)电连接;步骤七、在金属导电层(16)与钝化层(3)相背的表面制作一防焊层(17),此防焊层(17)上开设若干个通孔(18),一焊球(19)通过所述通孔(18)与金属导电层(16)电连接;所述金属托盘(8)带上正电荷,所述喷嘴(9)带上负电荷,所述保护光阻液带上负电荷。
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