[发明专利]氮化镓盖帽层掩模的凹槽栅氮化镓基增强型器件制备方法有效
申请号: | 201410386689.6 | 申请日: | 2014-08-07 |
公开(公告)号: | CN104167362B | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 徐哲;王金延;刘靖骞;王茂俊;谢冰;于民;吴文刚 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 | 代理人: | 邵可声 |
地址: | 100871 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种氮化镓盖帽层掩模的凹槽栅氮化镓基增强型器件的制备方法,其步骤包括在氮化镓基表面光刻器件区域,刻蚀非器件区域;在氮化镓基表面光刻凹槽栅区域图形;刻蚀凹槽栅区域的氮化镓盖帽层并去除剩余光刻胶;对氮化镓基表面在高温条件下进行氧化处理;将氮化镓基表面置于腐蚀性溶液中进行腐蚀;对氮化镓基表面淀积栅绝缘层;光刻源漏区域,刻蚀源漏区域的栅绝缘层并制备欧姆接触;制备栅金属。本发明采用氮化镓盖帽层为掩模,简化了制备工艺,降低了制备成本,凹槽栅结构的制备可以实现自停止,可操作性和可重复性高,制备的氮化镓基增强型器件性能优异,阈值电压为4.4V,最大电流为135mA/mm,更利于工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 氮化 盖帽 层掩模 凹槽 增强 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于氮化镓盖帽层掩模的自停止凹槽栅氮化镓基增强型器件的制备方法,其步骤包括:1)在氮化镓基材料的表面光刻器件区域,刻蚀非器件区域;2)在氮化镓基材料的表面涂敷光刻胶,并光刻凹槽栅区域图形;3)刻蚀凹槽栅区域的氮化镓盖帽层并去除剩余光刻胶;该步骤将需要氧化的区域即待做凹槽栅区域裸露出来,将不需要氧化的区域用氮化镓盖帽层保护起来;4)以氮化镓盖帽层为掩模,对氮化镓基材料表面的待做凹槽栅区域在高温条件下进行氧化处理;5)将氧化处理后的氮化镓基材料表面置于腐蚀性溶液中进行腐蚀,以去除氧化物;该腐蚀性溶液对氮化镓基材料中的氮化镓层和氮化镓盖帽层没有影响,从而实现自停止刻蚀凹槽栅结构;6)对氮化镓基材料的表面淀积栅绝缘层;7)在栅绝缘层上涂敷光刻胶并光刻源漏区域,刻蚀源漏区域的栅绝缘层并制备欧姆接触;8)制备栅金属。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410386689.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造