[发明专利]一种利用二维金属层厚度降低石墨烯电极接触电阻的方法有效
申请号: | 201410389035.9 | 申请日: | 2014-08-08 |
公开(公告)号: | CN104157561B | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 周鹏;杨松波;孙清清;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/285 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司31200 | 代理人: | 陆飞,盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于二维材料基集成电路制造技术领域,具体涉及一种利用二维金属层厚度来降低石墨烯电极接触电阻的方法。通过物理气相沉积(PVD)的方法在石墨烯器件上淀积金属电极。制作一种石墨烯/二维金属层/金的结构。通过调节二维金属层的厚度来调节石墨烯与二维金属层的接触,调节接触势垒,使接触势垒最低,通过这种方法来降低石墨烯接触电阻。通过这种方法可以有效地来降低石墨烯接触电阻,从而制备性能优良的石墨烯器件,而且这方法简单方便。该方法可以作为制备二维材料器件的一种基本方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 二维 金属 厚度 降低 石墨 电极 接触 电阻 方法 | ||
【主权项】:
一种选择适合二维金属层厚度降低石墨烯电极接触电阻的方法,其特征在于具体步骤为:(1)提供生长有石墨烯的样品;(2)利用物理气相沉积的方法,在石墨烯上淀积0.1‑5 nm不同厚度的超薄二维金属层;(3)通过原位紫外光电子能谱测量不同厚度的二维金属层‑石墨烯接触,分析和确定达到最低势垒的厚度,即为二维金属层的最优厚度;其中,采用原位多功能分析设备,把物理气相沉积和紫外光电子能谱设备整合在一起;这些原位设备保持高真空度在10‑10 mbar;(4)利用物理气相沉积的方法,在石墨烯器件上淀积最优厚度的二维金属层;(5)利用物理气相沉积的方法,淀积20—200 nm厚度的金属M,形成石墨烯/二维金属层/金属M的器件接触结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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