[发明专利]双导轨直线与平行度测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201410389297.5 申请日: 2014-08-08
公开(公告)号: CN104913756A 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 李源;毕磊;陈欣 申请(专利权)人: 明泰信科精密仪器科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;G01B21/02
代理公司: 北京格旭知识产权代理事务所(普通合伙) 11443 代理人: 雒纯丹
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种双导轨直线与平行度测量装置,包括测量导轨表面位移变化的位移传感器组、用于固定所述位移传感器组的移传感器安装台和与所述位移传感器组连接并实时采集存储所述位移传感器组的测量值的数据采集系统。所述位移传感器安装台沿导轨滑动时、所述位移传感器组扫描测量导轨的位移变化量,所述数据采集系统实时采集存储所述移传感器组测量的数据值。本发明提供的测量装置能同时测量双导轨的位移变化量,对工业现场的抗干扰性较好,可以满足在位导轨的测量需求,无需另外安装专门的扫描导轨、对被测导轨的长度无限制。本发明提供的测量方法能根据所述测量装置采集的数据值,运用本发明的算法计算得出高精度的被测导轨直线度和平行度。
搜索关键词: 导轨 直线 平行 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种双导轨直线与平行度测量装置,其特征在于,包括测量导轨表面位移变化的位移传感器组(101),位移传感器安装台(102),和实时采集存储所述位移传感器组(101)的测量值的数据采集系统(104);所述位移传感器组(101)安装在所述位移传感器安装台(102)上,所述位移传感器组(101)连接所述数据采集系统(104);所述位移传感器安装台(102)沿导轨滑动时所述位移传感器组(101)扫描测量导轨的位移变化量,所述数据采集系统(104)实时采集所述移传感器组(101)测量的数据值并存储所述数据值。
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