[发明专利]一种功率IGBT模块的寿命预测方法有效

专利信息
申请号: 201410393391.8 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN105335602B 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 李志刚;左帅;姚芳 申请(专利权)人: 河北工业大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙)12210 代理人: 李济群
地址: 300401 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种功率IGBT模块的寿命预测方法,该方法基于实时温度监测,首先,由实时监测的温度获得其离散有限序列,将此序列进行线性拟合,得到连续函数,再经傅里叶变换为正弦量,按电路解析方法,通过寿命损耗调节函数C,求解在寿命消耗函数R(T)和Rc上寿命损耗,进而预测出功率IGBT模块的剩余寿命。
搜索关键词: 一种 功率 igbt 模块 寿命 预测 方法
【主权项】:
一种功率IGBT模块的寿命预测方法,其特征在于该方法基于实时温度监测,首先,由实时监测的温度获得其离散有限序列,将此序列进行线性拟合,得到连续函数,再经傅里叶变换为正弦量,按电路解析方法,通过寿命损耗调节函数C,求解在寿命消耗函数R(T)和Rc上的寿命损耗,进而预测出功率IGBT模块的剩余寿命;IGBT模块结温以一定频率和幅值波动时,功率IGBT模块的瞬时寿命损耗P依式(1.1)计算所述式(1.1)中T(t)为将实时监测得到结温T的离散有限序列进行线性拟合得到表征T随时间t变化的连续函数;ω为角频率,ω=2πfT,fT为IGBT模块结温变化频率,所述功率IGBT模块累积消耗的寿命θs根据式(2.1)计算当IGBT以恒定结温运行时,P依式(1.2)计算,累积消耗寿命根据式(2.2)计算ts为IGBT模块实际运行时间,tz是实际工况下的最终可运行时间,模块剩余寿命Lr如式(3),Lr=L‑θs(3),L为功率IGBT总寿命;所述式(1.1)的参数中,R(T)、Rc和C的获取过程如下:需要选取相同型号的功率IGBT模块3组,每组m个,m≥1,将3组模块分别在按以下步骤操作1)模块组1运行在恒定结温T1下,得到n1个采样时间点,对应的温度序列和剩余寿命值,每组得到m个总寿命值,将总寿命值求平均值得L1;2)让其他两组模块围绕结温T1,分别在正弦波动下运行,所述正弦波幅值固定,频率分别为f1、f2,分别得到对应的温度序列,m个总寿命值,各自将总寿命值求平均值得L2,L3;L1带入式 (3),L2,L3带入式(3)联立可得到R(T)、Rc和C的离散值,改变T1,得到不同温度状态下的R(T)、Rc和C参数矩阵,将这3个参数矩阵进行拟合,即得到R(T)、Rc及C。
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