[发明专利]带陶瓷测量元件的测量装置有效
| 申请号： | 201410395316.5 | 申请日： | 2014-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN104568240B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·柯普 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01L1/14 | 分类号： | G01L1/14 |
| 代理公司： | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人： | 胡艳 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 测量装置(1)带有陶瓷测量元件(3)和用于将测量元件(3)连接至测量环境的金属工艺连接件(5)，其中测量元件(3)以耐扩散的方式被固定在工艺连接件(5)中但不用垫圈，测量元件(3)被紧固在陶瓷环(7)上，陶瓷环(7)被设置在用于紧固至工艺连接件(5)中的金属环(9)上。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 测量 元件 装置 | ||
【主权项】：
1.测量装置(1)，包括陶瓷测量元件(3)和用于将测量元件(3)连接至测量环境的金属工艺连接件(5)，其中所述测量元件(3)以耐扩散的方式被固定在所述工艺连接件(5)中但不用垫圈，其特征在于：所述测量元件(3)被紧固在陶瓷环(7)上，所述陶瓷环(7)被设置在用于紧固到所述工艺连接件(5)中的金属环(9)上，其中，所述金属环(9)相对于所述陶瓷环(7)被轴向设置，且其中所述金属环(9)具有与所述陶瓷环(7)的内径相同的内径，且具有比所述陶瓷环(7)的外径大的外径，其中所述金属环(9)利用焊接连接(15)周向地焊接到所述工艺连接件(5)，使得在这一区域内能够获得所述金属环(5)以及所述工艺连接件(5)正面的平坦表面。
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