[发明专利]一种紫外CCD花样的平场矫正方法有效

专利信息
申请号: 201410397693.2 申请日: 2014-08-13
公开(公告)号: CN104166997B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 吴潮;魏建彦;曹莉;裘予雷 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G06T5/50 分类号: G06T5/50
代理公司: 中国航天科技专利中心11009 代理人: 庞静
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种紫外CCD花样的平场矫正方法(1)至少采集5‑10幅窄波平场图像;(2)对采集的窄波平场图像进行处理,去除图像中的本底信号,并将图像合并为一幅平场图像;(3)从平场图像中进行成份分离,分离出平场图像的大尺度成份和小尺度成份;(4)根据上述确定的大尺度成份及小尺度成份,合成不同比率R下的修正平场图像;(5)利用上述修正平场图像对任选一幅真实的观测图像进行定标处理,根据定标后得到的观测图像信号确定最优的修正平场图像及对应的比率R;(6)利用上述确定的最优修正平场图像对紫外CCD相机的观测图像进行平场定标处理,完成其花样的矫正处理。
搜索关键词: 一种 紫外 ccd 花样 矫正 方法
【主权项】:
一种紫外CCD花样的平场矫正方法,其特征在于步骤如下:(1)至少采集5‑10幅窄波平场图像;(2)对步骤(1)中采集的窄波平场图像进行处理,去除图像中的本底信号,并将图像合并为一幅平场图像;(3)从步骤(2)中得到的平场图像中进行成份分离,分离出平场图像的大尺度成份FLij和小尺度成份FSij;大尺度成份FLij和小尺度成份FSij的分离具体实现如下:(3.1)将平场图像分成若干个子格,每个子格的大小为结构性花样的典型轮廓尺度;(3.2)计算每个子格的典型背景值m;(3.3)在平场图像区域内每个子格的背景值m和相应的子格位置构成一个二维的分布面阵,对这个分布面阵采用双三次多项式拟合的方法进行平滑,最后得到大尺度的分量信号FLij;小尺度分量信号Fij表示去除本底后图像在第i行第j列像元的响应信号;(4)根据上述确定的大尺度成份FLij及小尺度成份FSij,合成不同比率R下的修正平场图像;(5)利用上述修正平场图像对任选一幅真实的观测图像进行定标处理,根据定标后得到的观测图像信号确定最优的修正平场图像及对应的比率R;(6)利用上述确定的最优修正平场图像对紫外CCD相机的观测图像进行平场定标处理,完成其花样的矫正处理。
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