[发明专利]一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法

摘要

本发明公开了一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法，确定迭代次数Nint，即可实现在迭代过程中动态调整Δt，自适应校正传感器输出，克服了利用算术平均的延时和递推平均等不具备的自适应性；本发明方法运算简单，适用于智能传感器自身信息处理单元实时校正，实现软件补偿硬件不足，在一定程度克服传感器自身分辨率所造成的测量不准确性，提高测量精度；本发明方法，不仅可以提高传感器测量数据的准确性，还具有一定的去噪能力，可直接用于传感器输出数据处理。

主权项

一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、确定计算迭代次数Nint；(2)、获取传感器原始测量数据，当采样时刻为第Nint个采样时刻，启动校正过程，此时，当前时刻i＝Nint；(3)、并令j＝i‑1，计算传感器当前时刻i的初始广义速度：VijR=yi-yj(i-j)Ts;]]>(4)、令j＝i‑2；(5)、计算传感器测量值广义速度：Vij=yi-yj(i-j)Ts;]]>(6)判断：如果Vij*Vi(j‑1)<0，当前时刻i的广义速度为：否则：a、若Vij≥0,则:VijR=Vij;Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts)<Vij<Vi(j-1)R+SVerr(Ts*(i-j))Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts):Vij≤Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*TsVi(j-1)R+SVerr((i-j)*Ts);Vij≥Vi(j-1)R+SVerr((i-j)*Ts);]]>若Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts)<Vij<Vi(j-1)R+SVerr(Ts*(i-j)),]]>则令j＝j‑1，并返回步骤(5)，否则，进入步骤(7)；b)、当Vij<0时VijR=Vij;Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts)<Vij<Vi(j-1)R+SVerr(Ts*(i-j))Vi(j-1)R+SVerr((i-j)*Ts):Vij≤Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*TsVi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts);Vij≥Vi(j-1)R+SVerr((i-j)*Ts);]]>若Vi(j-1)R-SVerr((i-j)*Ts)<Vij<Vi(j-1)R+SVerr(Ts*(i-j)),]]>则令j＝j‑1，并返回骤(5)，否则，进入步骤(7)；其中：SVerr((i-j)*Ts)=M(i-j)*Ts;]]>SVerr((i‑j)*Ts)为广义速度误差，是所取两个采样点时间间隔Δt＝(i‑j)*Ts的函数，M为传感器的分辨率；(7)、计算出广义速度作为在第i个采样时刻处传感器校正后的广义速度，并按照公式：yi+1_correct=yi+VijR*Ts]]>获得下一时刻i+1的校正输出yi+1_correct作为传感器的输出值；(8)、当前时刻i加1，返回步骤(3)，这样求取第Nint个采样时刻后的各个采样时刻传感器实时校正输出值。