[发明专利]系统频率响应的测量方法在审
申请号: | 201410400525.4 | 申请日: | 2014-08-14 |
公开(公告)号: | CN104198810A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 张虎;张军 | 申请(专利权)人: | 深圳市爱普泰科电子有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R23/16 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华新区观澜凹背*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种系统频率响应的测量方法,包括:生成正弦指数扫频信号作为输入信号;根据所述输入信号得到系统输出信号;构造匹配信号并将所述匹配信号与系统输出信号做卷积得到脉冲响应;从所述脉冲响应中分离出系统线性脉冲响应;根据所述线性脉冲响应求出系统频率响应。本发明可以测量整个频带内脉冲响应且误差小。 | ||
搜索关键词: | 系统 频率响应 测量方法 | ||
【主权项】:
一种系统频率响应的测量方法,其特征在于,包括:生成正弦指数扫频信号作为输入信号;根据所述输入信号得到系统输出信号;构造匹配信号并将所述匹配信号与系统输出信号做卷积得到脉冲响应;从所述脉冲响应中分离出系统线性脉冲响应;根据所述线性脉冲响应求出系统频率响应。
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