[发明专利]基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201410400543.2 申请日: 2014-08-14
公开(公告)号: CN104132624B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 杨再华;陶力;易旺民;万毕乐;闫荣鑫;刘涛;胡瑞钦;徐志东;刘浩淼;阮国伟 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
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地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置,主要包括激光散斑投影装置、CCD相机、条纹投影装置、数据采集及控制单元等,激光散斑投影装置利用激光散斑干涉测量方法,对被测结构板的局部变形进行测量,条纹投影测量装置通过条纹投影测量及多次测量数据拼接,对大范围的变形进行测量。通过基于散斑干涉和条纹投影组合测量航天器的结构变形,可以实现对航天器结构微变形的大范围、非接触测量,2m×2m范围内的整体精度可达10um,局部需要高精度测量的0.2m×0.2m范围的测量精度可达1um。
搜索关键词: 基于 干涉 条纹 投影 测量 航天器 结构 变形 装置 测量方法
【主权项】:
基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置,主要包括激光散斑投影装置、CCD相机、条纹投影装置、数据采集及控制单元、固定平台、隔振平台、加热控制器、精密转台、加热片、旋转台一和旋转台二,隔振平台两端分别设置有固定平台和精密转台,固定平台上设置有精密导轨,精密导轨两侧设置有旋转台一和旋转台二,旋转台一上设置有集成为一体的激光散斑投影装置和CCD相机,旋转台二上设置有条纹投影装置,激光散斑投影装置及条纹投影装置分别与数据采集及控制单元电通信,数据采集及控制单元同时对旋转台一和旋转台二进行转动控制,精密转台用于固定背部均匀设置有若干加热片的被测结构板,加热控制器设置在精密转台侧面对加热片进行加热控制,激光散斑投影装置利用激光散斑干涉测量方法,对被测结构板的局部变形进行测量,条纹投影测量装置通过条纹投影测量及多次测量数据拼接,对大范围的变形进行测量。
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