[发明专利]一种微型光学扫描测距装置及方法

摘要

本发明提供一种微型光学扫描测距装置及方法，包括固定于装置底座，且由一成像透镜、一准直光源以及一感光芯片和一处理电路构成的一小基线光学测距系统，实现非接触式的高精度测距；还包括安装于所述测距系统上方的一可连续旋转的反光镜片，接收所述准直光源发射的准直光束，其中，测距模块中光源发出的准直光束始终保持与镜片旋转中轴线平行，实现扫描测距并在纵向范围上增加测距的视角范围，以及用于测量所述反光镜片方位角的一编码器，用于获取测距光束的角度信息。相比于现有设计，该光学扫描测距装置具有更小的体积以及更轻的重量，成本低，并无需测距电子设备进行旋转，可大幅提高设备的可靠性和工作寿命。

主权项

1.一种微型光学扫描测距装置，其特征在于，包括：一底座；一小基线光学测距模块，安装于所述底座；一扫描模块，其包括一转盘和倾斜地连接于所述转盘的一反光镜片，其中所述反光镜片位于所述光学测距模块的上方，所述转盘可转动地连接于所述底座；和一数据处理模块，连接于所述转盘和所述底座，计量所述反光镜片旋转的角度信息；进一步包括安装于所述底座的一动力模块，其包括一动力部件和一传动部件，其中所述传动部件连接于所述动力部件和所述转盘，得以使所述动力部件施加动力给所述转盘，促使所述转盘的转动；所述小基线光学测距模块包括一成像透镜、一感光芯片、一准直光源以及连接于所述感光芯片的一处理器电路，其中所述感光芯片和所述成像透镜光轴保持一个大于0°并小于90°的夹角，所述成像透镜的中心光轴与所述准直光源之间形成一基线，所述准直光源发射的准直光束与所述基线的垂线呈一角度；所述准直光束与所述反光镜片的旋转转轴平行且与所述旋转转轴呈一大于零的间距。