[发明专利]一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法

摘要

一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法，步骤如下1.收集历史数据；2.建立密度分布函数及对数极大似然函数；3.明确截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的关系；4.还原初始质量检测数据并确定截尾分布参数与其期望值的关系；5.迭代步骤2—4至参数值所需精度，并确定收敛CEV下的截尾期望值；6.对样本检测值进行分组，设计和计算各组检测统计量；7.确定控制图的控制限；8.确定截尾型质量特性控制图的控制界限属性；9.控制图的性能比较分析；10.基于平均运行链长的控制图的性能比较分析；11.录入样本检测值，完成控制图的构建。本发明弥补了传统控制图在过程监控中的局限性，具有广阔的应用前景。

主权项

一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法，假设条件如下：假设1过程是可测量；假设2过程检测值是右截尾型质量特性；假设3测量值相互独立；假设4过程检测值服从威布尔分布；假设5过程期望误报警率Rf一定；基于上述假设，所述的制作方法，其特征在于：其步骤如下：步骤1收集过程中右截尾质量检测数据；步骤2建立右截尾型质量特性的密度分布函数及考虑截尾因素的对数极大似然函数；步骤3明确截尾数据的截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的相关函数关系；该相关函数关系为vc＝Ec{(X,θ)|(X,θ)≥C}＝h(θ)，且有步骤4拟真还原初始质量检测数据并确定截尾过程分布参数与截尾期望值的函数关系；步骤5迭代步骤2—步骤4至参数值所需精度，并确定收敛CEV下的截尾期望值，完成最终的数据拟真还原；步骤6对更新后的样本检测值进行分组，并设计和计算各组检测统计量；所述的“分组”是指将未经排序的右截尾样本数据每n个为一组，分别计算每小组的检验统计量Tj＝∑i∈DXi+mC/n,j＝1,2,...,N/n，得到统计量矩阵TS＝[T1,T2,...,TN/n]T；步骤7依据给定的期望误报警率确定所构建控制图的控制限；步骤8确定截尾型质量特性控制图的控制界限属性；步骤9过程稳定情况下的基于最优反应距离的控制图的性能比较分析；步骤10过程异常情况下的基于平均运行链长的控制图的性能比较分析；所述“平均运行链长”是指过程失控状态下的平均运行链长；步骤11录入拟真还原后的样本检测值，完成控制图的构建，并观察有无异常点，否则返回步骤1重新执行至过程判定为稳受控。