[发明专利]一种准确测量静磁场B0分布的方法

摘要

本发明公开了一种准确测量静磁场B0分布的方法，包括以下步骤输入脉冲序列及参数；自动优化回波间隔时间；采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；将频率编码梯度反向，采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；获得最终的相位差数据；计算获得磁场分布数据。本发明采用自旋回波重聚磁场不均匀性对静磁场B0测量的影响，减小由于磁场不均匀性引入的信噪比损失。自动优化两次回波时间ΔTE，可自动获得最大信噪比的相位差数据。采用正向、反向梯度方式两次测量相位差数据的方式消除由于磁场不均匀性引入的编码不准确，提高相位差数据的准确性，以拟合的静磁场分布说明新方法的有效性。

主权项

一种准确测量静磁场B0分布的方法，包括以下步骤：步骤1，输入静磁场测量所需的自旋回波脉冲序列及实验所需的采样原子核；步骤2，通过计算两次回波幅度大小，自动优化两次回波的时间间隔△TE，使得两次回波幅度比控制在预定比例AmpRatio；步骤3，根据步骤1和步骤2所确定的自旋回波脉冲序列和时间间隔△TE采集两次回波数据EchoData1，EchoData2；步骤4，处理步骤3采集获得的两次回波数据，分别获得相应的幅度图像数据AmpData1和AmpData2、相位图像数据PhaseData1和PhaseData2以及相位差数据PhaseDiffData；步骤5，反转实验所需的频率编码梯度，采集获得梯度反向之后的两次回波数据NegativeEchoData1，NegativeEchoData2；步骤6，处理步骤5所采集获得的两次回波数据，分别获得相应的梯度反向后的幅度图像数据NegativeAmpData1和NegativeAmpData2、梯度反向后的相位图像数据NegativePhaseData1和NegativePhaseData2以及相位差数据NegativePhaseDiffData；步骤7，根据步骤4和步骤6所得的数据，获得最终的准确的可表征静磁场B0分布的相位差数据FinalPhaseDiffData；步骤8，根据步骤7处理获得的相位差数据FinalPhaseDiffData、步骤1中输入的采样原子核及步骤2自动优化的时间间隔△TE，计算出当前磁场分布数据FieldMap，计算依据如下公式：FieldMap＝FinalPhaseDiffData/(Gama*△TE)其中Gama为采样核旋磁比。