[发明专利]p型SnO薄膜及其p-n结二极管的制备方法无效

专利信息
申请号: 201410406410.6 申请日: 2014-08-18
公开(公告)号: CN104178730A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 杨铁莹;赵俊;李晓龙;高兴宇;薛超凡;吴衍青;邰仁忠 申请(专利权)人: 中国科学院上海应用物理研究所
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35;H01L21/329
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种p型SnO薄膜的制备方法,以SnO陶瓷靶为靶材,采用射频磁控溅射在石英衬底上原位沉积形成p型SnO薄膜,其中,衬底温度为150-300℃,溅射功率为50-150W,工作气体为Ar气,气压为0.5-2.0Pa,气体流量为50-100sccm,相比现有先室温沉积再退火的技术,本制备方法简单易行,适合大规模生产,通过优化衬底温度、溅射功率、气压等工艺参数,大大减少了薄膜内部缺陷,提高了空穴迁移率,大幅提高了p型SnO薄膜的结晶质量和电导率,再以SnO2:Sb陶瓷靶为靶材,通过射频磁控溅射在该p型SnO薄膜上原位沉积形成n型SnO2:Sb薄膜以形成p-n结二极管,可有效提高p-n结二极管的稳定性和光电性能,由此制得的p-n结二极管具有阈值电压高、漏电流低、制备简单、成本低等特点,可用作透明电子器件的基本元件。
搜索关键词: sno 薄膜 及其 二极管 制备 方法
【主权项】:
一种p型SnO薄膜的制备方法,其特征在于,以SnO陶瓷靶为靶材,采用射频磁控溅射在石英衬底上原位沉积形成p型SnO薄膜,其中,衬底温度为150‑300℃,溅射功率为50‑150W,工作气体为Ar气,气压为0.5‑2.0Pa,气体流量为50‑100sccm。
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